１９５２年の創業以来、膜厚測定に関する豊富な機器ラインアップと、長年にわたって養ってきた経験とノウハウをもって、日本の表面処理業界に貢献してきた膜厚測定に関する機器のリーディングカンパニー、株式会社電測（〒１６４‐００１１ 東京都中野区中央２‐31‐5／ＴＥＬ：03‐３３６５‐４４１１）は、２０２２年１月26日（水）～28日（金）に東京ビッグサイトで開催される「ＳＵＲＴＥＣＨ２０２２」（東１ホール3U‐07）に出展する。
　同社の膜厚計は、めっき加工業者や自動車業界をはじめ、各方面から高い信頼を得ており、技術力の養成はもちろんのこと、サービス面でも顧客に最適なソリューションを提案できるよう、社内及び社外におけるコミュニケーションの徹底など、ユーザーのコンサルティングパートナーとしての能力を磨く”人づくり“にも力を入れている。
　今回の出展では多点同時測定渦電流式膜厚計、蛍光Ｘ線式膜厚計「ＥＸ‐８５１」、電解式膜厚計「ＧＣＴ‐３１１」、渦電流式膜厚計「ＤＭＣ‐２１１」、電気抵抗式膜厚計「ＲＳＴ‐２３１」を展示する。今回、独スペクトロ社の蛍光Ｘ線分析装置「ＳＰＥＣＴＲＯＣＵＢＥ　Ｄ」も展示する。
　蛍光Ｘ線式膜厚計「ＥＸ‐８５１」は、ドアを閉めるだけで測定位置へ自動で移動して測定を行い、測定後はドアを開けると自動的に前へステージが戻るオートフォーカス機能を搭載し、常に最高の精度が得られるように、ニューメリックフィルタの他に、メカニカルフィルタ（Co及びNi）のダブルフィルタも内蔵した。
　また、Ｗｉｎｄｏｗｓソフト採用により、簡単に測定画面を取り込め、報告書作成機能を充実させ、マルチタスク機能でレポート作成を含む他の処理が可能とした。
　さらにコリメータを５種類内臓し、オプションで２種類のスペシャル仕様も用意した。
　そして、自己診断機能及びＸ線管保守機能を備え、マルチチャンネルによるスペクトル分析高速処理により、簡単な操作で測定物のスペクトル表示を実行、Ｘ線照射部をＷｉｎｄｏｗｓ画面に取り込みＸ線照射部を表示、測定物に合わせて倍率変更ができる機能を実現しており、３次元グラフ表示により測定物のめっき厚分布が一目瞭然で判る。

　また、蛍光Ｘ線式膜厚計にBe窓Ｘ線管を用意し、Cr測定、Ni測定の繰り返し測定精度が格段に向上した。
　多点同時測定渦電流式膜厚計は、非磁性金属（アルミ、銅、真鍮）上の非電導体皮膜、鋼上の各種めっき、非金属上の銅、銀めっき等素地と皮膜の電導率の差が大きいものを測定し、高安定・高精度の膜厚測定を可能にする。
　特長としては、50～１００点同時測定で短時間での検査が可能・非破壊なので、全数検査に最適。といった特徴を持つ。
　独スペクトロ社は発光分析装置及び蛍光Ｘ線分析装置を世界中に供給するアメテックグループのマテリアルアナリシス事業部の一員。
蛍光Ｘ線分析装置「ＳＰＥＣＴＲＯＣＵＢＥ　Ｄ」は下面照射方式を採用しており、サンプルを置くだけで分析の準備が完了する。分析スポット径は最小０・２mmに対応する。
　AMETEK社製の最新高速／高計数率シリコンドリフト（SSD）検出器を採用。このクラスの他の装置と比較し、同程度の精度を維持しながら約２倍の速さで分析することができ、1サンプルあたり、わずか15秒で分析が完了する。
　ビギナーでも直ぐに使用出来るような設計となっている。
1）測定ウィンドウの中心にサンプルを置き、2）チャンバーを閉じる。3）装置前面にあるボタンまたはソフト画面上“スタート”ボタンをクリックするだけ。
専用ソフトは一つの画面に関係するすべての情報が見られるようにデザインされており、直感的な操作を実現している。

　その他、多様なめっきに対応する高精度膜厚計の電解式膜厚計等、同社製品を実際に見ることが出来る同社ブース（東１ホール3U‐07）は見逃せない。

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